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产品特点：
用户可以查看他们希望查看任何数据
通过电脑安全便捷的远程访问
多层级的敏感数据保护
便捷的程序入口、试验设置和产品监控
试验数据可以导出为Excel格式并通过USB接口进行传输
HAST测试条件有130℃、85%RH、230KPa大气压，96hour测试时间。
HAST试验箱是利用高温(通常为130 ℃)、高相对湿度(约85%)、高大气压力的条件（达3 atm）来加速潮气通过外部保护材料或芯片引线周围的密封封装的试验设备，用于评估产品及材料在高温，高湿，高气压条件下对湿度的抵抗能力，加速其失效过程。
该试验检查芯片及其他材料长期贮存条件下，高温和时间对器件的影响。本规范适用于量产芯片验证测试阶段的HAST测试需求，仅针对非密封封装（塑料封装），带偏置（bHAST）和不带偏置（uHAST）的测试。
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标准设计更安全
内胆采用圆弧设计防止结露滴水，符合国家安全容器规范；
多重保护功能
三道高温保护装置、湿度用水断水保护与电热断水空焚保护、机台停机时自动排除饱和蒸气压力、气动机构压力保护等
稳定性更高
压力值采实际感应侦测，确保温度、湿度及压力值准确度；
湿度自由选择
湿度自由选择饱和（100%R.H湿度）与非饱和（75%R.H湿度）自由设定；
智能化高
支持电脑连接，
利用USB数据、
曲线导出保存
GB-T 2423.40-1997 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热
IEC 60068-2-66-1994 环境试验 第2-66部分:试验方法 试验Cx:稳态湿热(不饱合加压蒸汽)
JESD22-A100 循环温湿度偏置寿命
JESD22-A101 THB加速式温湿度及偏压测试
JESD22-A102 加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮
JESD22-A108 温度，偏置电压，以及工作寿命（IC寿命试验）
JESD22-A110 高加速温湿度应力试验（HAST）
JESD22-A118 加速水汽抵抗性--无偏压HAST(无偏置电压未饱和高压蒸汽)
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